Нормативные документы размещены исключительно с целью ознакомления учащихся ВУЗов, техникумов и училищ.
Объявления:
  КГС Классификатор государственных стандартов
  Э Электронная техника, радиоэлектроника и связь
  Э2 Элементы радиоэлектронной аппаратуры
  Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка

Методы испытаний. Упаковка. Маркировка

Искать в Методы испытаний. Упаковка. Маркировка
Искать!

Содержит 469 документов
Страницы: « 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 » »»

ГОСТ 19656.5-74 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Методы измерения шумового отношения
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1975Страниц: 10
ГОСТ 19656.2-74 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения выпрямленного тока
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1975Страниц: 3
ГОСТ 19656.12-76 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения полного входного сопротивления
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1977Страниц: 7
ГОСТ 19656.6-74 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения нормированного коэффициента шума
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1975Страниц: 9
ГОСТ 19656.4-74 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения потерь преобразования
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1975Страниц: 9
ГОСТ 19656.15-84 Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения теплового сопротивления переход-корпус и импульсного теплового сопротивления
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1986Страниц: 23
ГОСТ 19656.0-74 Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1975Страниц: 4
ГОСТ 18986.12-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1976Страниц: 4
ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1976Страниц: 7
ГОСТ 18986.5-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.8-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.1-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 3
ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 3
ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1984Страниц: 3
ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1986Страниц: 11
ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1976Страниц: 6
ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1985Страниц: 8
Страницы: « 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 » »»

Навигационное меню:

  ОКП
     Строительный каталог
2008-2013. ГОСТы, СНиПы, СанПиНы - Нормативные документы - стандарты. Методы испытаний. Упаковка. Маркировка, Элементы радиоэлектронной аппаратуры, Электронная техника, радиоэлектроника и связь, Классификатор государственных стандартов,