Объявления:
ОКП 630000 ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ 634000 Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических 634100 Приборы полупроводниковыеПриборы полупроводниковые
| ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1975 | Страниц: 3 |
| ГОСТ 26086-84 Лазеры. Методы измерения диаметра пучка и энергетической расходимости лазерного излучения | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1985 | Страниц: 15 |
| ГОСТ 25212-82 Лазеры. Методы измерения энергии импульсов излучения | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: утратил силу в РФ |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1983 | Страниц: 15 |
| ГОСТ 24428-80 Лазеры газовые. Общие технические условия | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1982 | Страниц: 24 |
| ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1982 | Страниц: 12 |
| ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Метод измерения добротности | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1975 | Страниц: 10 |
| ГОСТ 18604.11-88 Транзисторы биполярные. Метод измерения коэффициента шума на высоких и сверхвысоких частотах | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1990 | Страниц: 18 |
| ГОСТ 18472-88 Приборы полупроводниковые. Основные размеры | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1989 | Страниц: 105 |
| ГОСТ 19138.6-86 Тиристоры. Методы измерения электрических параметров | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1987 | Страниц: 11 |
| ГОСТ 18604.26-85 Транзисторы биполярные. Методы измерения временных параметров | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1986 | Страниц: 10 |
| ГОСТ 25819-83 Лазеры. Методы измерения максимальной мощности импульсного лазерного излучения | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1984 | Страниц: 12 |
| ГОСТ 25213-82 Лазеры. Методы измерения длительности и частоты повторения импульсов излучения | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1983 | Страниц: 15 |
| ГОСТ 25373-82 Лазеры измерительные. Типы, основные параметры и технические требования | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: утратил силу в РФ |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.07.1984 | Страниц: 15 |
| ГОСТ 25369-82 Фотоэлементы измерительные. Основные параметры. Методы измерений основных параметров | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1983 | Страниц: 18 |
| ГОСТ 18604.2-80 Транзисторы биполярные. Методы измерения статического коэффициента передачи тока | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1982 | Страниц: 15 |
| ГОСТ 18604.16-78 Транзисторы биполярные. Метод измерения коэффициента обратной связи по напряжению в режиме малого сигнала | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1979 | Страниц: 4 |
| ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1980 | Страниц: 6 |
| ГОСТ 18986.0-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1976 | Страниц: 3 |
| ГОСТ 18604.4-74 Транзисторы. Метод измерения обратного тока коллектора | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.09.1976 | Страниц: 4 |
| ГОСТ 18604.6-74 Транзисторы. Метод измерения обратного тока эмиттера | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1976 | Страниц: 4 |
