Нормативные документы размещены исключительно с целью ознакомления учащихся ВУЗов, техникумов и училищ.
Объявления:
   ОКП
  630000 ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ
  634000 Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических
  634100 Приборы полупроводниковые

Приборы полупроводниковые

Искать в Приборы полупроводниковые
Искать!

Содержит 72 документов
Страницы: 1 2 3 4 »

ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Метод измерения добротности
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 10
ГОСТ 18986.18-73 Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1974Страниц: 4
ГОСТ 23203-78 Варисторы. Ряды токов и классификационных напряжений
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1979Страниц: 3
ГОСТ 18986.16-72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1974Страниц: 4
ГОСТ 19656.4-74 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения потерь преобразования
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1975Страниц: 9
ГОСТ 18986.12-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1976Страниц: 4
ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1976Страниц: 7
ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.1-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 3
ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 3
ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.0-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1976Страниц: 3
ГОСТ 24428-80 Лазеры газовые. Общие технические условия
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1982Страниц: 24
ГОСТ 19319-82 Лазеры твердотельные. Основные параметры
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1983Страниц: 4
ГОСТ 25786-83 Лазеры. Методы измерений средней мощности, средней мощности импульса, относительной нестабильности средней мощности лазерного излучения
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1984Страниц: 25
ГОСТ 26086-84 Лазеры. Методы измерения диаметра пучка и энергетической расходимости лазерного излучения
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1985Страниц: 15
ГОСТ 25213-82 Лазеры. Методы измерения длительности и частоты повторения импульсов излучения
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1983Страниц: 15
ГОСТ 25819-83 Лазеры. Методы измерения максимальной мощности импульсного лазерного излучения
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1984Страниц: 12
ГОСТ 24458-80 Оптопары полупроводниковые. Основные параметры
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1982Страниц: 3
ГОСТ 18472-88 Приборы полупроводниковые. Основные размеры
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1989Страниц: 105
Страницы: 1 2 3 4 »

Навигационное меню:

  ОКП
     Строительный каталог
2008-2013. ГОСТы, СНиПы, СанПиНы - Нормативные документы - стандарты. Приборы полупроводниковые, Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических, ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ, ОКП,