Объявления:
ГОСТ 19834.5-80 - Диоды полупроводниковые инфракрасные излучающие. Метод измерения временных параметров импульса излучения
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды, в том числе бескорпусные, и устанавливает метод измерения временных параметров импульса излучения: времени нарастания, времени спада, времени задержки при включении, времени задержки при выключении| Наименование документа: | ГОСТ 19834.5-80 |
| Тип документа: | стандарт |
| Статус документа: | действующий |
| Название рус.: | Диоды полупроводниковые инфракрасные излучающие. Метод измерения временных параметров импульса излучения |
| Название англ.: | Semiconductor emitting infra-red diodes. Method for measuring of radiation pulse switching times |
| Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
| Дата введения: | 01.01.1982 |
| Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
| Кол-во страниц в основном тексте документа: | 7 шт. |
| Дата издания: | 01.04.2000 |
| Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
| Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
| Поправки и изменения: | Изменение №1 к ГОСТ 19834.5-80 (1984-07-01) - «Срок действия продлен» Изменение №2 к ГОСТ 19834.5-80 (1987-03-01) - «Срок действия продлен» |
| Расположен в: |   ОКС Общероссийский классификатор стандартов 31 ЭЛЕКТРОНИКА 31.080 Полупроводниковые приборы (Полупроводниковые материалы см.: 29.045) 31.080.10 Диоды (Полупроводниковые материалы см.: 29.045) КГС Классификатор государственных стандартов Э Электронная техника, радиоэлектроника и связь Э2 Элементы радиоэлектронной аппаратуры Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка ОКП 620000 КОНДЕНСАТОРЫ 621000 Конденсаторы постоянной емкости керамические |
       | |
