Нормативные документы размещены исключительно с целью ознакомления учащихся ВУЗов, техникумов и училищ.
Объявления:
Нормативные документы - главная страница

ГОСТ Р 8.697-2010 - Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа.
Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения
Наименование документа:ГОСТ Р 8.697-2010
Тип документа:стандарт
Статус документа:действующий
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope
Дата актуализации текста:01.08.2013
Дата введения:31.08.2010
Дата актуализации описания:01.08.2013
Кол-во страниц в основном тексте документа:16 шт.
Дата издания:19.04.2010
Переиздание:
Дата последнего изменения:23.05.2013
Расположен в:
  ОКС Общероссийский классификатор стандартов
  17 МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ
  17.040 Линейные и угловые измерения (Включая геометрические характеристики (GPS))
  17.040.01 Линейные и угловые измерения в целом (Включая геометрические характеристики (GPS))

  КГС Классификатор государственных стандартов
  Т Общетехнические и организационно-методические стандарты
  Т8 Государственная система измерений
  Т86 Методики выполнения измерений

   Тематические сборники
  ГСОЕИ Государственная система обеспечения единства измерений.

ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 1
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 2
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 3
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 4
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 5
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 6
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 7
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 8
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 9
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 10
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 11
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 12
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 13
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 14
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 15
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Страница 16


Навигационное меню:

  ОКП
     Строительный каталог
2008-2013. ГОСТы, СНиПы, СанПиНы - Нормативные документы - стандарты. ГОСТ Р 8.697-2010, Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа,