Объявления:
ГОСТ 8.003-2010 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы инструментальные. Методика поверки
Настоящий стандарт устанавливает методику первичной и периодической поверок инструментальных микроскопов всех типов, по ГОСТ 8074.Стандарт распространяется также на отечественные инструментальные микроскопы с характеристиками, аналогичными приведенным в ГОСТ 8074
| Наименование документа: | ГОСТ 8.003-2010 |
| Тип документа: | стандарт |
| Статус документа: | действующий |
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы инструментальные. Методика поверки |
| Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Tool-making microscopes. Verification procedure |
| Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
| Дата введения: | 01.03.2012 |
| Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
| Кол-во страниц в основном тексте документа: | 24 шт. |
| Взамен: | ГОСТ 8.003-83 |
| Дата издания: | 12.01.2012 |
| Переиздание: | |
| Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
| Расположен в: |   ОКС Общероссийский классификатор стандартов 17 МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ 17.180 Оптика и оптические измерения 17.180.30 Оптические измерительные приборы (Включая спектроскопы, геодезические инструменты и т.д. ;Офтальмологическая оптика и инструменты см.: 11.040.70 ;Лазерное оборудование см.: 31.260 ;Волоконная оптика см.: 33.180 ;Оптическое оборудование, материалы и компоненты см.: 37.020 ;Фотографические линзы см.: 37.040.10) КГС Классификатор государственных стандартов Т Общетехнические и организационно-методические стандарты Т8 Государственная система измерений Т88 Методики поверки и метрологической аттестации Тематические сборники ГСОЕИ Государственная система обеспечения единства измерений. |
                        | |
